اندازه گيری و مقايسه ضخامت سمان زينک فسفات آريادنت و زينک فسفات هاروارد با ليزر هليوم-نئون به روش تداخلی اپتيکی

الهی, پرويز and نادگران, حميد (2007) اندازه گيری و مقايسه ضخامت سمان زينک فسفات آريادنت و زينک فسفات هاروارد با ليزر هليوم-نئون به روش تداخلی اپتيکی. فصلنامه علمی پژوهشی لیزر در پزشکی, 3 (4). pp. 9-15. ISSN 3319-1735

Full text not available from this repository.

Abstract

چکيده مقاله: هدف: ضخامت سمان زينک فسفات آريادنت و هاروارد به روش تداخل اپتيکی و با استفاده از يک ليزر هليوم- نئون اندازه گيری شده است. از اين سمانها و محصولات مشابه برای چسباندن روکش های دايمی در دندانپزشکی استفاده می شود. در اين تحقيق ضخامت سمان آريادنت و سمان هاروارد مقايسه شده است.مواد و روش ها: ده نمونه آزمايشگاهی از سمان زينک فسفات آريادنت و هاروارد که بين دو تيغه شيشه ای به ضخامت دو ميلی متر قرار داده شده و با نيروی يکنواخت 150 نيوتن سفت شده بود، تحت تابش پرتوی ليزر هليوم- نئون قرار گرفت. محاسبات انجام شده بر اساس عبور پرتوی ليزر از ورای تيغه های شيشه ای و هوای بين آنها و نقش تداخلی حاوی نوارهای هم مرکز روشن و تاريک روی پرده انجام شد.نتايج نتايج نشان می دهد که ضخامت سمان آريادنت وقتی تحت نيروی 150 نيوتن قرار می گيرد 5/35 ميکرون بوده که از ضخامت سمان هاروارد به ميزان5/8 ميکرون بيشتر است

Item Type:	Article
Uncontrolled Keywords:	ضخامت سمان آريادنت، هاروارد، روش تداخلی، ضخامت لايه های نازک، زينک فسفات،
Subjects:	R Medicine > RZ Other systems of medicine
Divisions:	Other Journal > Official Journal of Iranian Center for Medical Laser (ICML)
Depositing User:	سمیه باغبانی
Date Deposited:	02 Dec 2015 15:00
Last Modified:	02 Dec 2015 15:00
URI:	http://eprints.bpums.ac.ir/id/eprint/4438

Actions (login required)

View Item